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- GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
本网站 发布时间:
2019-01-02
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标准简介
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适用范围:
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时,优先采用空气空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
标准号:
GB/T 4937.11-2018
标准名称:
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
英文名称:
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method标准状态:
现行-
发布日期:
2018-09-17 -
实施日期:
2019-01-01 出版语种:
中文简体
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