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GB/T 4937.11-2018 半导体器件　机械和气候试验方法　第11部分：快速温度变化　双液槽法

【国家标准】半导体器件　机械和气候试验方法　第11部分：快速温度变化　双液槽法

本网站发布时间： 2019-01-02

GB/T 4937.11-2018
现行
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标准简介

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适用范围：

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

基本信息

标准号：
GB/T 4937.11-2018
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第11部分：快速温度变化　双液槽法
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
标准状态：
现行
发布日期：
2018-09-17
实施日期：
2019-01-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
31.080.01
中标分类号：
L40

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《半导体器件　机械和气候试验方法　第11部分:快速温度变化　双液槽法》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
8 页
字数：
12 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
张天福、高金环、彭浩、李树杰、于学东、崔波、裴选、迟雷、张艳杰
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

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