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【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

本网站 发布时间: 2019-01-02
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适用范围:

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时,优先采用空气空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 4937.11-2018

  • 标准名称:

    半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

  • 英文名称:

    Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2018-09-17
  • 实施日期:

    2019-01-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.080.01
  • 中标分类号:

    L40

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    8 页
  • 字数:

    12 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    张天福 高金环 彭浩 李树杰 于学东 崔波 裴选 迟雷 张艳杰
  • 起草单位:

    中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 归口单位:

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 提出部门:

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划