我的标准 开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

AI 搜
标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求

本网站 发布时间： 2026-01-09
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

本文件规定了半导体器件表面锡基镀涂的环境接收试验和延缓锡须生长的方法。本方法可能不能满足有特定需求的应用(如：军用、航天等)，在合适的要求或采购文件中规定补充要求。
本文件不适用于只有底部引出端的半导体器件(如：方形扁平无引线和球栅阵列器件、倒装芯片凸点引出端)，由于这类器件在组装过程中引出端全部镀层表面会被浸润。
使用本文件时，同时满足第7章的报告要求。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 46788-2025

  • 标准名称：

    半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求

  • 英文名称：

    Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

    2025-12-02

  • 实施日期：

    2026-07-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    40 页

  • 字数：

    63 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    裴选、彭浩、姚玉、席善斌、宋玉玺、高东阳、蒙肇芸、汪之涵、和巍巍、李华辉、龙秀才、王英程、裴晓波、林钰岚、尹丽仪、孙彬、张国光、魏兵

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市创智成功科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、厦门旌存半导体技术有限公司、广州海关技术中心、中山奥士森电子有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、江苏上达半导体有限公司、佛山市蓝箭电子股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究