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【国家标准】 半导体探测器X射线能谱仪通则

本网站 发布时间: 2016-09-02
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适用范围:

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 20726-2006

  • 标准名称:

    半导体探测器X射线能谱仪通则

  • 英文名称:

    Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
  • 标准状态:

    被代替
  • 发布日期:

    2006-12-25
  • 实施日期:

    2007-08-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    71.040.99
  • 中标分类号:

    N33

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    12 页
  • 字数:

    14 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    曾荣树 徐文东 毛骞 马玉光 范光
  • 起草单位:

    中国科学院地质与地球物理研究所
  • 归口单位:

    全国微束分析标准化技术委员会
  • 提出部门:

    全国微束分析标准化技术委员会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
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