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【国家标准】 半导体器件　第10部分：分立器件和集成电路总规范

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适用范围：

本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。 注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范

读者对象：

从事半导体器件的生产、设计、检验等技术人员及相关标准化工作人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4589.1-2006

  • 标准名称：

    半导体器件　第10部分：分立器件和集成电路总规范

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2006-10-10

  • 实施日期：

    2007-02-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    36 页

  • 字数：

    63 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    罗发明、陈裕昆、金毓铨

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究所(CESI)

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会

  • 提出部门：

    中华人民共和国信息产业部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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