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- GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
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标准简介
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适用范围:
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。
本规范是半导体器件(分立器件和集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。
本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则:
——电特性测试方法;
——气候和机械试验;
——耐久性试验。
注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时,必须用这些规范来补充本规范
标准号:
GB/T 4589.1-2006
标准名称:
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文名称:
Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits标准状态:
现行-
发布日期:
2006-10-10 -
实施日期:
2007-02-01 出版语种:
中文简体
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