【国家标准】半导体器件　机械和气候试验方法　第18部分：电离辐射(总剂量)

本网站发布时间： 2019-01-02

GB/T 4937.18-2018
现行
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标准简介

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适用范围：

GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行60Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。本部分仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照。本部分主要针对军事或空间相关的应用。本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，因而被认为是破坏性试验。

基本信息

标准号：
GB/T 4937.18-2018
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第18部分：电离辐射(总剂量)
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)
标准状态：
现行
发布日期：
2018-09-17
实施日期：
2019-01-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
31.080.01
中标分类号：
L40

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《半导体器件　机械和气候试验方法　第18部分：电离辐射(总剂量)》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
12 页
字数：
20 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
席善斌、彭浩、郭旗、陆妩、陈伟、林东生、何宝平、金晓明、崔波、陈海蓉
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

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