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- GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
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标准简介
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适用范围:
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
标准号:
GB/T 4937.3-2012
标准名称:
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
英文名称:
Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods—Part 3:External visual examination标准状态:
现行-
发布日期:
2012-11-05 -
实施日期:
2013-02-15 出版语种:
中文简体
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