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【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

本网站 发布时间: 2023-12-01
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适用范围:

本文件描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 4937.23-2023

  • 标准名称:

    半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

  • 英文名称:

    Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2023-05-23
  • 实施日期:

    2023-12-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.080.01
  • 中标分类号:

    L40

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    16 页
  • 字数:

    18 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    冉红雷 张魁 张忠祥 黄杰 彭浩 魏兵 尹丽晶 徐昕 柯汉忠 颜天宝 刘银燕
  • 起草单位:

    中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州信安电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、广东科信电子有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
  • 归口单位:

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 提出部门:

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划