微信公众号随时随地查标准

QQ交流1群(已满)

QQ群标准在线咨询2

QQ交流2群

购买标准后,可去我的标准下载或阅读

GB/T 44791-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片的减薄工艺(以下简称减薄工艺)过程和评价要求。
注: 1 in=2.54 cm。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了集成电路三维封装中使用引线键合工艺及倒装工艺进行的芯片叠层工艺过程和评价要求。
本文件适用于集成电路三维封装中使用引线键合及倒装工艺进行叠层的电路。

定价: 49元 / 折扣价: 42 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 44796-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件规定了12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺(以下简称划片工艺)的一般要求、详细要求和评价要求。
注: 1 in=2.54 cm。
本文件适用于12 in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法 现行 发布日期 :  2020-03-06 实施日期 :  2020-10-01

本标准规定了带状薄膜抗拉性能的试验方法及数据处理。本标准适用于厚度在50 nm到数微米之间且长度和厚度的比值大于300的样品,也可用于MEMS产品带状薄膜结构的质量监控。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 38762.1-2020 产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第1部分:线性尺寸 现行 发布日期 :  2020-04-28 实施日期 :  2020-11-01

GB/T 38762的本部分建立了线性尺寸的缺省规范操作集(见GB/T 24637.2),并规定了面向“圆柱面”“球面”“圆环面”1)“两相对平行面”以及“两相对平行直线”等尺寸要素类型的线性尺寸若干特定规范操作集。此外,本部分还规定了线性尺寸的规范修饰符及其图样表达。

定价: 81元 / 折扣价: 69 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 38762.3-2020 产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第3部分:角度尺寸 现行 发布日期 :  2020-04-28 实施日期 :  2020-11-01

GB/T 38762的本部分建立了角度尺寸的缺省规范操作集,并为下列角度尺寸要素定义了一系列特定规范操作集:圆锥(截断如圆台或未截断)、楔形(截断或未截断)、两条相对直线(由垂直于楔形/截断楔形两平面相交直线的平面与楔形/截断楔形相交得到,由包含圆锥/圆台轴线的平面与圆锥/圆台相交得到),见图1和图2。
本部分还规定了上述角度尺寸的规范修饰符和图样标注。

定价: 43元 / 折扣价: 37 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量 现行 发布日期 :  2022-10-12 实施日期 :  2022-10-12

本文件规定了晶圆键合后键合强度的测量方法,适用于硅硅共熔键合、硅玻璃阳极键合等多种晶圆键合方式,以及MEMS工艺、组装流程中相关结构尺寸的键合强度的评估。
本文件适用于从十微米到几毫米厚的晶圆间的键合强度测量。

定价: 43元 / 折扣价: 37 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 26113-2010 微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则 现行 发布日期 :  2011-01-10 实施日期 :  2011-10-01

本标准规定了微几何量的评定基本原则、评定要素、评定程序、评定方法以及评定规则。
本标准适用于企业、研究机构、检测机构等从事微机电技术及产品的研究、设计、生产、检测。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 26113-2010e 微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则 现行 发布日期 :  2011-01-10 实施日期 :  2011-10-01

定价: 216元 / 折扣价: 184 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 20296-2012 集成电路记忆法与符号 现行 发布日期 :  2012-12-31 实施日期 :  2013-07-01

定价: 54元 / 折扣价: 46 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 现行 发布日期 :  1993-12-30 实施日期 :  1994-10-01

定价: 29元 / 折扣价: 25 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 现行 发布日期 :  1994-06-25 实施日期 :  1995-04-01

定价: 59元 / 折扣价: 51 加购物车

在线阅读 收 藏

《半导体器件的机械标准化》的本部分规定了采用载带自动焊(TAB)作为结构和互连主要构成的集成电路封装推荐值。本部分适用于制造厂供给用户的成品单元,对集成电路(IC)到载带的互连(内引线焊接)没有明确要求。

定价: 65元 / 折扣价: 56 加购物车

在线阅读 收 藏

本文件规定了焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法。
本文件规定的测量方法,在符合下述约定条件下,为用户提供尺寸保证:
a) 测量一般采用手工或自动方式进行;
b) 如果某个尺寸不易直接测量,则最佳的替代测量方法将被确定为首选方法。

定价: 38元 / 折扣价: 33 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分:总则 现行 发布日期 :  1996-07-09 实施日期 :  1997-01-01

定价: 43元 / 折扣价: 37 加购物车

在线阅读 收 藏
91 条记录,每页 15 条,当前第 1 / 7 页 第一页 | 上一页 | 下一页 | 最末页  |     转到第   页