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【国家标准】 智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性

本网站 发布时间： 2025-11-24
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适用范围：

本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 46567.1-2025

  • 标准名称：

    智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性

  • 英文名称：

    Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2025-10-31

  • 实施日期：

    2025-10-31

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.99

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    25 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永祥。

  • 起草单位：

    之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会

  • 归口单位：

    全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)

  • 提出部门：

    全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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