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【国家标准】 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

本网站 发布时间： 2019-05-01
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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14032-1992

  • 标准名称：

    半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

  • 英文名称：

    General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    1992-12-18

  • 实施日期：

    1993-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L55

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    16 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    王庆光、高信龄

  • 起草单位：

    上海元件五厂

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    全国集成电路标准化分技术委员会

  • 发布部门：

    国家技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准

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