- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L55 >>
- GB/T 43940-2024 4 Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试方法
【国家标准】 4 Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试方法
本网站 发布时间:
2024-08-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
文前页下载
适用范围:
本文件描述了4 Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线电气性能测试和协议测试的测试方法。本文件适用于4 Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线的器件、板卡、设备、子系统或系统的测试。
标准号:
GB/T 43940-2024
标准名称:
4 Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试方法
英文名称:
4 Mb/s digital time division command/response multiplex-data bus test plan标准状态:
现行-
发布日期:
2024-04-25 -
实施日期:
2024-08-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 47239.9-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法
- GB/T 42706.3-2025 电子元器件 半导体器件长期贮存 第3部分:数据
- GB/T 42706.4-2025 电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分:贮存
- GB/T 42706.6-2025 电子元器件 半导体器件长期贮存 第6部分:封装或涂覆元器件
- GB/T 15879.612-2025 半导体器件的机械标准化 第6-12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 密节距焊盘阵列封装(FLGA)的设计指南
- GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法
- GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
- GB/T 32815-2016 硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
- GB/T 32816-2016 硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
- GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
- GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
- GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
- GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
- GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
- GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件

我的标准
购物车
400-168-0010








