【国家标准】非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

本网站发布时间： 2025-12-02

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标准简介

本文件描述了非本征半导体单晶材料霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。

标准号：
GB/T 4326-2025
标准名称：
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称：
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态：
即将实施
发布日期：
2025-10-31
实施日期：
2026-05-01
出版语种：
中文简体

起草人：
林泉、王博、马远飞、李素青、王阳、刘国龙、周铁军、王宇、黄文文、王金灵、刘京明、韩庆辉、赵中阳、胡世鹏、莫杰、朱晨阳
起草单位：
有研国晶辉新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、中国科学院半导体研究所、晶澳太阳能科技股份有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司、深圳大学
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
提出部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

【国家标准】 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法