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【国家标准】 氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

本网站 发布时间: 2026-02-27
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适用范围:

本文件描述了氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的电感耦合等离子体发射光谱测定方法。
本文件适用于氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定,测定范围为0.001 mg/g~4.00 mg/g。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 47081-2026

  • 标准名称:

    氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

  • 英文名称:

    Determination of iron,aluminum and calcium of silicon nitride powder—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
  • 标准状态:

    即将实施
  • 发布日期:

    2026-01-28
  • 实施日期:

    2026-08-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    77.040
  • 中标分类号:

    H17

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

    12 页
  • 字数:

    12 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    邱艳梅、刘国霞、李冰清、李兰兰、贾琳、李锦春、刘红亮、曹俊英、王春明、赵培芝、李强、陈彩霞、钟海炎、胡伟
  • 起草单位:

    新疆新特新能材料检测中心有限公司、四川永祥新能源有限公司、山东中临半导体新材料有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、青海南玻新能源科技有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、高富高新材料(浙江)有限公司、松山湖材料实验室
  • 归口单位:

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
  • 提出部门:

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会