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- GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
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标准简介
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适用范围:
本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。
本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。
本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at·cm-3到硅中间隙氧的最大固溶度。
标准号:
GB/T 1557-2006
标准名称:
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文名称:
The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption标准状态:
被代替-
发布日期:
2006-07-18 -
实施日期:
2006-11-01 出版语种:
中文简体
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