我的标准 开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

中国标准在线服务网

AI 搜
标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

本网站 发布时间： 2017-12-19
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4298-1984

  • 标准名称：

    半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

  • 英文名称：

    The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials

  • 标准状态：

    废止

  • 发布日期：

    1984-03-28

  • 实施日期：

    1985-03-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.040.30

  • 中标分类号：

    H17

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    35 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    周云鹿、章家鼎

  • 起草单位：

    有色金属研究总院、中国科学院原子核研究所

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    有色金属工业总公司

  • 发布部门：

    国家标准局
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究